會(huì)議由全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)納米材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)組織。全國納米技術(shù)標(biāo)委會(huì)副主任委員葛廣路、副秘書長王孝平、總院辦公室主任張繼軍、科技發(fā)展部項(xiàng)目主管王敬敏、CTC技術(shù)質(zhì)量部部長張慶華與來自生產(chǎn)、檢測、科研用戶等單位的代表參加了會(huì)議。會(huì)議由分委會(huì)秘書長戴石鋒主持。會(huì)議確定成立了由電子科技大學(xué)能源科學(xué)與工程學(xué)院向勇副院長為組長的標(biāo)準(zhǔn)審查專家組。

　　會(huì)上，標(biāo)準(zhǔn)主要起草人劉靜、孟政向與會(huì)代表介紹了《納米薄膜厚度測量方法》標(biāo)準(zhǔn)制定的內(nèi)容、編制依據(jù)以及試驗(yàn)驗(yàn)證情況。審查專家對(duì)標(biāo)準(zhǔn)送審稿進(jìn)行了認(rèn)真審查后認(rèn)為，標(biāo)準(zhǔn)起草組進(jìn)行了大量深入細(xì)致的研究，在起草過程中廣泛收集、查閱了國內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及技術(shù)資料，進(jìn)行了認(rèn)真、仔細(xì)的調(diào)研和試驗(yàn)驗(yàn)證工作，測試方法科學(xué)、合理，驗(yàn)證試驗(yàn)數(shù)據(jù)充分，提交會(huì)議審查的資料齊全、數(shù)據(jù)真實(shí)可靠。

　　玻璃通過鍍膜可以擁有新的或不同的功能，膜厚的測量對(duì)鍍膜玻璃功能的控制有重要作用。本標(biāo)準(zhǔn)的制定，首次提出了使用觸針式輪廓儀測量玻璃表面納米薄膜厚度的方法，對(duì)通過控制膜厚來影響鍍膜玻璃的性能具有重要意義，同時(shí)有助于化解平板玻璃行業(yè)產(chǎn)品過剩的現(xiàn)狀，并對(duì)推動(dòng)行業(yè)健康發(fā)展起著積極作用。